1. 概況

環(huán)境試驗是為了重現(xiàn)零件、部件以及整個系統(tǒng)將經(jīng)受的環(huán)境條件或作出加速的條件，并在此條件下調(diào)查被試品的特性、確認耐用性而進行的試驗。
環(huán)境試驗設備設計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展、環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應的環(huán)境試驗設備亦隨之日益增多，被試品所遇到的環(huán)境條件也極其多樣復雜，要定出一種同樣的環(huán)境試驗方法來滿足所有的試驗目的是極其困難的。
為了使環(huán)境試驗能可靠、持續(xù)地得到實施，需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設備。而要達到這一點，首先需要有一個統(tǒng)一衡量試驗設備的尺度，即環(huán)境試驗設備標準以及環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定標準，為了定量地體現(xiàn)可靠性，有必要規(guī)定試驗的環(huán)境條件和方法，制定出無論在什么地方都能用相同基準（以下簡稱“設備標準”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法標準（以下簡稱“方法標準”）起草、發(fā)布、實施于二十世紀八十年代中期，以IEC68-1，2，3為基調(diào)等效采用。
環(huán)境試驗設備標準             基本環(huán)境試驗規(guī)程
GB10586 濕熱試驗箱技術條件   GB2426.3試驗Ca恒定濕熱試驗方法 
GB2423.4試驗Dd交變濕熱試驗方法
GB10589 低溫試驗箱技術條件   GB2423.1 試驗A低溫試驗方法
GB10592 高低溫試驗箱技術條件GB2423.22試驗Nb溫度變化試驗方法
GB11158 高溫試驗箱技術條件   GB2423.2  試驗B高溫試驗方法
   基本參數(shù)檢定方法采用GB5170
GB/T5170電工電子產(chǎn)品試驗設備基本參數(shù)檢定方法(1996修訂版明確本標準主要適用于環(huán)境試驗設備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗)
應注意本公司產(chǎn)品是試驗箱而不是試驗方法,所以說本公司產(chǎn)品符合GB10586，GB10589，GB11158等試驗箱技術條件，可以用來做GB2423.1,2,3,4或GB2423.22中Nb的試驗.

1. 試驗箱的使用條件

   國標上規(guī)定了試驗箱的使用環(huán)境條件及負載要求，因此銷售人員必須在銷售產(chǎn)品時說明。

1. 環(huán)境條件

溫度：15℃~35℃
相對濕度：不大于85%RH；
大氣壓強：86Kpa~106Kpa（1350m）以下）；
周圍無強烈振動‘
無陽光直射，無熱源直接輻射；周圍無強烈氣流，當周圍空氣需強制流動時，不可直接吹到箱體上；
周圍無強烈電磁場；
周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)；

• 供電條件

電壓：220±22V、380±38V；
頻率：50±0.5Hz;

• 供水條件

冷卻水：可滿足下列條件的自來水或循環(huán)水。
水溫：不高于30℃；
水壓：0.1~0.3Mpa;
加濕用水當用水與空氣直接接觸的方法加濕空氣時，水的電阻率不應低于500Ωm

1. 負載條件

試驗負載可先用電工、電子及其他產(chǎn)品，零部件及絕緣材料等；
試驗負載的總質(zhì)量按每立方米工作室容放置50~80Kg試驗樣品計算；
試驗負載的總體積應不大于工作室容積的1/5；
在垂直于主導風向的任意截面上，試驗負載面積之和不大于該處工作室截面積的1/3；
三、環(huán)境試驗設備標準（試驗箱技術條件）
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設備標準構有九項
GB10586-89    濕熱試驗箱          技術條件
GB10587-89    鹽霧試驗箱          技術條件
GB10588-89     長霉試驗箱子        技術條件         
GB10589-89    低溫試驗箱          技術條件
GB10590-89    低溫/低氣壓試驗箱   技術條件 
GB10591-89    高溫/低氣壓試驗箱   技術條件     
GB10592-89    高、代溫試驗箱      技術條件
GB11158-89    高溫試驗箱         技術條件
GB11159-89    低氣壓試驗箱       技術條件
2、設備標準中的共性問題
A、適用范圍
    在上述的九項標準中明確規(guī)定了本標準適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設備的所有廠家，對該標準所對應的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。
B、適應性
   按設備標準檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應的環(huán)境試驗方法標準中對試驗設備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
C、操作性
   設備標準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標準在設備制造廠應用較多。
D、修訂設備標準的不足之處
九項設備標準起草于上世紀八十年代，隨著科學技術、工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和要求，修訂設備標準已成為必須，現(xiàn)正在修訂。
3、GB10586濕熱試驗箱技術條件
按使用性能分Ⅰ、Ⅱ兩類，其性能指標見下列產(chǎn)品性能表。

類別 參數(shù) 指標			Ⅰ	Ⅱ
調(diào)節(jié)范圍	溫度，℃		室溫±(10～60)	20～60
	相對濕度，%		環(huán)境濕度至100	80～100
溫度均勻度，℃			≤1
溫度波動度，℃			±0.5
允許偏差		溫度，℃	±2.0		見14頁圖(試驗Db)
		相對濕度，%	+2 -3
升溫速率, ℃/min			≤11)
降溫束率, ℃/min			-
風速,m/s			≤1
交變能力			恒定		恒定、交變

注：1）Ⅰ類試驗箱的升溫速率按每5min的平均值計算。
2）GB2423.4的圖2中，降溫階段的相對濕度分為，不小于95%和不小于85%兩種。
4、GB10589低溫試驗箱技術條件

1. 試驗箱溫度等級如下：

+5，-5，-10，-25，-40，-55，-65℃。

• 溫度偏差不大于±3℃。
• 溫度均勻度不大于2℃。
• 溫度波動度不大于±1℃

5、GB10592高低溫試驗箱技術條件
A、溫度等級及偏差

1. 試驗箱的高溫溫度等級為：

30，40，55，70，85，100，125，155，175，200℃。

1. 高溫溫度偏差不大于±2℃
2. 試驗箱的低溫溫度等級為：

+5，-5，-10，-25，-40，-55，-65℃。

• 低溫溫度偏差不大于±3℃
• 試驗箱在高溫及低溫時的溫度均勻度應不大于2.0℃。
• 試驗箱的溫度波動度高溫時不大于min 0.5℃;低溫時不大于±1.0℃。

B、升溫及降溫速率
   在滿載條件下，每5min的平均升溫和降溫速率等級為：不大于1℃/min、1±0.2℃/ min、3 ±0.6℃/ min或5±1℃/ min

• GB11158高溫試驗箱技術條件
• 試驗箱的溫度等級及充許偏差見下表：

                                                             ℃

溫度等級	30	40	55	70	85	100	125	155	175	200
允許偏差	±2

• 溫度均勻度不大于2℃；
• 溫度波動度不大于±0.5℃。

四、環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法標準（氣候環(huán)境試驗設備）

1. GB/T5170.1 總則

術語
（1）標稱值
當檢定環(huán)境試驗設備時，按試驗方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需預先確定的環(huán)境參數(shù)值。
（2）試驗設備容積
試驗箱（室）內(nèi)壁所限定空間的實際容積，用m³表示。。
（3）工作空間
試驗箱（室）中能將規(guī)定的試驗條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。
（4）指示點
試驗箱（室）工作空間狀態(tài)的點，一般取工作空間幾何中心點，也可根據(jù)具體情況選擇其它合適的點。
（5）試驗箱（室）穩(wěn)定狀態(tài)
試驗箱（室）指示點的自身變化量達到設備本身性能指標要求時的狀態(tài)。
（6）溫度波動度
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間內(nèi)任意一點溫度隨時間的變化量。
計算方法：試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點溫度在30min內(nèi)（每2min測試一次）每次測試中實測最高溫度與最低溫度之差的算術平均值，計算化工如下：

• t_f=±(t_fmax-t_fmin)/2
• Tf——溫度波動度，℃；

t_{fmax——批示點在30}min內(nèi)的實測最高溫度，℃；
t_{fmin——指示點在30}min內(nèi)的實測最低溫度，℃。
式中：  溫度均勻度，℃；
指示點30min內(nèi)的實測最高溫度，℃；
指示30min內(nèi)的實測最低溫度，℃。
（7）溫度均勻度
試驗箱（室）穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間在某一瞬時各測試點溫度之間的差值。
計算方法：試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點在30min內(nèi)（每20min測試一次）每次測試中實測最高溫度與最低溫度之差的算術平均值，計算公式如下：
△T_u=[Σ(T_jmax-T_jmin)]/15
式中：△T_u——溫度均勻度，℃；
T_jmax——各測試點在第j次測試中的實測最高溫度，℃；
T_jmin——各測試點在第j次測試中的實測最高溫度，℃。
（8）溫度偏差
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點在規(guī)定時間內(nèi)實測最高溫度（Tmax）和最低溫度（Tmin）與標稱溫度（T_N）的上下偏差，計算公式如下：
上偏差：    △T_max=T_max-T_N        下偏差：△T_min=T_min-T_N
（9）相對濕度偏差
  試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作窨各測試點在規(guī)定時間內(nèi)的實測最高相對濕度（Hmax）和最低相對濕度（Hmin）與標稱相對濕度（H_N）的上下偏差，計算公式：
   上偏差：△H_max=H_max-H_N              下偏差：△H_min=H_min-H_N
（10）溫度變化速率
  試驗箱（室）在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi)，工作空間指示連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量，用℃/min表示。

• 現(xiàn)行環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法標準（共六項）

GB/T5170.2——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備
GB/T5170.5——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備
GB/T5170.8——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設備
GB/T5170.9——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設備
GB/T5170.10——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設備
GB/T5170.11——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備

• GB/T5170.2溫度試驗設備及GB/T5170.5濕熱試驗設備

A、5170.2溫度試驗設備測量點數(shù)量及位置
(1)根據(jù)試驗設備容積大小,將工作空間分為上、中、下三層，將一定數(shù)量的溫度、相對濕度和風速傳感器放在其中規(guī)定的位置上，傳感器應避免冷熱源的直接輻射。
溫度測量點用英文字母O、A、B，C，D，E，F(xiàn)，G，H，J，K，L，M，N，U表示。
相對濕度測量點為一個，用字母O_h表示。
風速測量點與溫度測量點的數(shù)量與布放位置完全相同。
測量O和O_h為設備工作空間的幾何中心點，其他各測量點的位置與設備內(nèi)壁的距離為工作室各自邊長的1/10。（遇有風道時，是指與送風口的距離），但最大距離不能大于500mm。如果設備帶有樣品架或樣品車時，下層測量點可放在樣品架或樣品車上方10 mm處。
（2）設備容積小于或等于2m³時，溫度測量點9個，相對濕度測量點為1個，布放位置如下圖所示：
上層               中層                 下層

K      L N      M

Oh/O

A      B D      C

                                      

門                門                      門
（3）設備容積大于2m³時，溫度測量點為15個，相對濕度測量點為1個，布放位置如下圖所示：

A      B    E D      C

上層               中層                 下層

K      L     U N      M

F J  Oh/O  G     H

 
 

門                           門                    門 
（4）當試驗設備容積小于0.05 m³或大于50 m³時,可適當減少增加溫度測量點.
(5)根據(jù)試驗和檢定的需要,可在設備工作空間增加對疑點的測量.
(6)對于其他形狀的試驗設備,測量點數(shù)量和位置可參照上述規(guī)定執(zhí)行.
B、5170.5濕熱試驗設備測量數(shù)量及位置
（1）在被試設備工作室內(nèi)定出上、中、下三個水平層面（簡稱上、中、下三層），上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10，中層通過工作室?guī)缀沃行狞cO，下層在底層樣品架上方10mm處。
（2）測量點分別位于上、中、下三層，如圖1和圖2。
溫度測量點用英文字母O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。
相對濕度測量點用字母O_h、D_h、H_h、L_h表示。
風速測量點與溫度測量點的數(shù)量與布放位置完全相同。
（3）工作室容積不大于2m³時，溫度測量點為9個，相對濕度測量點為3個，位置如下圖：
上層                 中層                 下層

K      L/Lh N      M

Oh/O

A      B D /Dh    C

                                                                                    

門                                  門                   門 
測量點O、O_h位于工作空間的幾何中心點，其他各測量點與試驗設備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10，但不小于50 mm。
（4）工作室容積大于2m³時，溫度測量點為15個，相對濕度測量點為4個，位置如圖：

A      B    E D /Dh    C

K      L/LH     U N      M

F J  Oh/O  G     Hh /H

上層               中層                 下層 
 

門                   門                  門
測量點E、O、O_h、U分別位于工作空間上、中、下層的幾何中心點，其他各測量點與試驗設備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10，但不小于50 mm。
（5）若測出的工作空間的基本參數(shù)不符合GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.9、GB/T2423.16的要求且與測量點的位置有關時，可適當放寬6.3和6.4規(guī)定的1/10的距離，但應在檢定報告中予以記載。
（6）當工作容積大于50 m³時，溫度測量點和相對濕度的數(shù)可適當增加。

1. 方法標準的幾個共同問題

A、標準適用范圍
    在六頂方法標準中明確規(guī)定了該類標準是環(huán)境試驗設備在進行周期檢定頂目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點數(shù)量、遠見卓識點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
B、適應性
按方法標準檢測合格的設備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關的環(huán)境試驗。
C、操作性
本類標準在環(huán)境試驗設備使用單位應用居多，試驗設備和產(chǎn)廠應用為少。
5、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點
A、各分標準使用時應與總則一起使用。
B、對于復合試驗設備的周期檢定要若干分標準及總則一起使用。
C、檢定條件
由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設備標準下一致。

1. 負載要求

由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設備標準GB11158中的規(guī)定保持一致。
五、GB2423.1，2，3，4及22Nb等試驗方法的考核內(nèi)容（環(huán)境試驗規(guī)程）
1、GB2423.1   試驗A低溫試驗方法
僅限于用來考核或確定電工，電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件貯存或使用的適應性而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。
試驗溫度+5℃~-65℃；
允許偏差范圍±3℃；
持續(xù)時間2，16，72，96h;
2、GB2423.2   試驗B高溫試驗方法
   僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或使用的適應性而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。
試驗溫度   +30℃～＋200℃；
允許偏差   ±2℃；
持續(xù)時間   2，16，72。96h；
3、GB2423.3   試驗Ca恒定濕熱試驗方法
適用于確定電工、電子產(chǎn)品元件材料等在恒定濕條件下使用貯存的適應性。
試驗條件  40℃±2℃；93%RH₃⁺²%
持續(xù)時間   2，4，10，21，56d；
4、GB2423.4     試驗Db交變濕熱試驗方法
   適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適用性。有關標準應從以下（）選取嚴酷等級。
 A、高溫溫度：40℃
試驗周期：2，6，12，21，56d;
B、高溫溫度：50℃
試驗周期：1，2，6d。